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112年資優鑑定複選(一般智能)重要公告-試場平面圖(豐南考區)

作者 : 發佈日期 : 2023-06-30
1. 附件:試場平面圖、入場證配置表。
2. 請考生務必攜帶入場證。(相關說明詳見入場證上的鑑定須知)
3. 因佈置考場所需,6/30(五)不開放校園。
4. 為維護考場秩序,7/1(六)當天管制入校;試務工作結束前,校園不開放,請考生家長留意。
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